产品特性
全画幅 750Hz 高速采样
大口径检测镜头
- X轴 2048 点/轮廓，高精度测量；
- 01
- 全画幅 750Hz 高速扫描；
- 02
- 重复精度最高可达0.4μm；
- 03
- 单帧 HDR 超高灵敏度 CMOS；
- 04
专业光学系统，高精度测量，轮廓点数高达2048个点。
采用自主研发的高性能激光器及光学系统，搭载3D专用的High Speed CMOS，具备高动态范围及超高灵敏度，X轴轮廓点数高达2048个点，轻松应对各种检测需求。
全画幅 750Hz 高速采样
搭载高性能FPGA及IC专用处理芯片，采样速度最高可达48000轮廓/秒。
大口径检测镜头
超宽X轴视野，有效提供受光量，实现超高分辨率。
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型号
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GL-7040
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GL-7060
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GL-7080
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GL-7200
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基准距离
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40mm
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60mm
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80mm
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240mm
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测量范围
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Z轴（高度）
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±2.7mm
（F.S.=5.4mm） |
±5.8mm
（F.S.=11.6mm） |
±13.6mm
（F.S.=27.2mm） |
±29.4mm
（F.S.=58.8mm） |
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X轴（宽度）
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近
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15mm
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31mm
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59mm
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82mm
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基准距离
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16mm
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32mm
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64mm
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100mm
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远
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16mm
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32mm
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69mm
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108mm
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光源
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光源
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蓝色半导体激光
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波长
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405nm（可见光）
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激光等级
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2M类激光产品 ( IEC60825-1、FDA(CDRH) Part 1040.10)
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输出
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10mW
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（基准距离上的）光点直径
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约22mmx44μm
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约25mm×49μm
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约44mm×72μm
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约115mm×116μm
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重复精度
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Z轴（高度）
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0.4μm
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0.4μm
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0.5μm
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1μm
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X轴（宽度）
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0.5μm
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0.5μm
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1.0μm
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3μm
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直线性
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Z轴（高度）
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±0.04% of F.S.
（±0.008%） |
±0.04% of F.S.
（±0.008%） |
±0.03% of F.S.
（±0.004%） |
±0.04% of F.S.
（±0.006%） |
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轮廓数据间距
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X轴（宽度）
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4μm
（3μm至） |
5μm
（4μm至） |
12.5μm
（10μm至） |
25μm
（20μm至） |
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轮廓数据数量
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2048点
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HDR（高动态范围）
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单帧HDR
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温度特性
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0.01% of F.S. /℃
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耐环境性
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防护等级
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IP67（IEC60529）
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环境光源
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白炽灯：10000lx以下
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环境温度
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0～+45℃
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环境湿度
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85%RH以下（无结露）
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抗震
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10～57Hz 双振幅1.5mm, X、Y、Z 各方向3小时
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抗冲击
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15g / 6msec
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材质
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铝
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